Caractérisation à l’échelle nanométrique d’interfaces métal/SiOxNy (Omn.Univ.Europ.) (French Edition)

Caractérisation à l’échelle nanométrique d’interfaces métal/SiOxNy (Omn.Univ.Europ.) (French Edition)

Product ID: 6131502005 Condition: New

$ 293
includes Duties & VAT
Delivery: 10-20 working days
Ships from USA warehouse.
Secure Transaction
VISA Mastercard ozow

Product Description

Caractérisation à l’échelle nanométrique d’interfaces métal/SiOxNy (Omn.Univ.Europ.) (French Edition)

Technical Specifications

Country
USA
Brand
ÉDITIONS UNIVERSITAIRES EUROPÉENNES
Manufacturer
Éditions universitaires européennes
Binding
Paperback
IsAdultProduct
Height
8.66
Length
5.91
Weight
0.6393405598
Width
0.44
ReleaseDate
2011-02-27T00:00:01Z
NumberOfItems
1
Author
Jarrige, Ignace